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記憶效應（英語：memory effect）是一種發生在某些充電電池上（如鎳鎘電池或鎳氫電池），經過多次充電後導致電池容量減少的現象。當鎳鎘電池（NiCd）或鎳氫電池（NiMH）在多次沒有完全放電的情況下又被充滿時就會產生記憶效應。其實這種效應極少發生，通常只出現於較古老且十分昂貴、稀有、無人管理的電子設備身上，比如通信衛星（每次經過地球陰影時，它都會消耗相同的電量，卻不能消耗完所有電量）。實驗室中的多次嘗試證明了要人為地重現這種效果十分困難。

被誤以為記憶效應的問題

因過度充電而出現的電壓下降

電壓下降常被歸咎於記憶效應。由於現在的電器通常是監控電池的電壓來顯示剩餘電量，在此情況下，當實際電量下降時，電池能達到的最大的電壓會比正常時低，因此通過電器監控到的電量比正常時低，儘管所儲存的實際電量沒有變，但該電池看起來電量消耗得很快，以致很短時間內就沒有電了。在用戶看來，電池似乎沒有達到最大電量，跟記憶效應差不多。在一些高負載的設備身上（比如數碼相機），這是很常出現的問題。

電壓下降多由重複過度充電引起，這時電池的電解液會在電極上形成細小晶體，這些晶體會阻塞電極，使電池的電阻變大、電壓降低。所以在這些電池放電的同時電壓會突然下降，看起來就像電池被很快用光了。

過度放電

過度重複放電可損耗某些電池組的性能。電池組由多個電池組成；這些電池雖然性質相似，但並非完全一樣，所以其電容有一定差別。而當電池組在進行深度放電時，某些電池容量較低的電池會完全放電。此時，電流便會由其他尚未完全放電的電池通過這些電池容量較低的電池。而因此出現的電容減少，多被誤認為是記憶效應。所以千萬別用到0%再去充電，會對電池造成損傷。

解決方案

這些所謂的記憶效應，一般都是上面說到的電壓下降現象，這造成了各種各樣試圖修復壞電池的錯誤行為。最常見的例子是通過某些設備來完全耗盡電池的電能，以便消除電池中的小晶體。理論上這是行得通的，但處理時常常會對電池組中的其他電池造成損害；而且，雖然短期內這種方法能解決記憶效應，但從長遠角度來看，這會縮短電池的壽命。正確的處理方式應該是讓電池獨立地放電，而不是幾顆一起。不然，當有電池先放盡電時，這些電池就會被反向充電，造成很大的損害。

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