X射線光電子能譜數據分析檢視原始碼討論檢視歷史
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《X射線光電子能譜數據分析》，宋廷魯，鄒美帥，魯德鳳 著，出版社： 北京理工大學出版社。
書，是歷史的見證、文化的賦形、知識的寶庫、智慧[1]的結晶，是一個民族一個國家顯示其文明的標誌。讀書，是時代的呼喚、歷史的昭示、職責的要求，是一個民族一個國家走向偉大復興的證明[2]。
內容簡介
X射線光電子能譜（XPS）應用廣泛，是目前最常用的表面分析技術之一。全書共4章，分為X射線光電子能譜基礎篇、數據分析基礎篇、數據分析軟件篇和數據分析實戰篇，不但內容詳實全面，而且還有大量分析案例，是作者多年寶貴的經驗總結。本書主要為涉及X射線光電子能譜的研究人員編寫。可供材料、化學化工、物理等相關專業的本科生、研究生、教師以及科研人員、技術人員作為教材、工具書和使用手冊，在教學科研中具有重要的指導意義與參考價值。
作者介紹
宋廷魯，男，北京理工大學材料學院，實驗師、高級工程師。先後從事耐火材料改性研究，高能複合材料改性應用研究，人工影響天氣催化技術及工程化應用，高分子阻燃材料和火安全技術評價，表面分析實驗技術研究，先進表徵分析技術在公安刑偵應用研究等。主持或參與重大科研項目、實驗室研究項目及橫向課題20餘項，發表論文60餘篇，第一作者或通訊作者22篇，授權專利4項，兼任北京市化工標準化技術委員會委員、上海市塑料工程技術學會標準評審專家、中國材料與試驗團體標準技術委員會評審專家等職務。目前研究方向為高分子材料、阻燃材料、功能材料以及材料分析測試表徵技術。