一板成功·高速電路研發與設計典型故障案例解析檢視原始碼討論檢視歷史

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《一板成功·高速電路研發與設計典型故障案例解析》，張晶威 著，出版社： 清華大學出版社。

清華大學出版社成立於1980年6月，是教育部主管、清華大學主辦的綜合性大學出版社。清華社先後榮獲 「先進高校出版社」「全國優秀出版社」「全國百佳圖書出版單位」「中國版權最具影響力企業」「首屆全國教材建設獎全國教材建設先進集體」等榮譽。

內容簡介

《一板成功——高速電路研發與設計典型故障案例解析》是面向硬件電路與系統的工程技術類書籍，通過對電子工程設計中的實際故障案例分析，幫助讀者形成硬件設計流程中電路調測和故障排查的方法體系。從研發設計人員的視角探求硬件電路與系統的測試測量、電路調試、故障分析以及解決方案，內容涵蓋時鐘、電源、邏輯器件、總線、高速信號、測量技術等常規的硬件電路模塊。兼具理論性和工程實用性。

《一板成功——高速電路研發與設計典型故障案例解析》適合作為從事計算機、通信設備、高端儀器製造等行業的電路設計、開發專業工程師、研究人員的技術參考書，也可以作為電子科學技術、電子工程專業高年級本科生和研究生的參考用書。

作者介紹

從事電子硬件技術工作10餘年，涉及計算機、通信、儀器儀表、工業、國防 等行業 ，並參與多項國j級、省級系統平台建設。近年來，主要從事雲平台、邊緣計算、異構計算系統設計工作。