279,581
次編輯
變更
無編輯摘要
[[File:原子力显微镜.jpeg|有框|右|<big>原子力显微镜</big>[http://www.germantech.com.cn/new/img/products/Nano-analytik/rtertwr_new_350.jpg 原图链接][http://www.germantech.com.cn/new/cplook.asp?id=523 来自 北京汇德信科技有限公司 的图片]]]
'''原子力显微镜'''（Atomic Force Microscope，简称AFM），也称扫描力显微镜（Scanning Force Microscope，SFM）是一种[[纳米]]级高分辨的扫描探针显微镜，优于[[光学]]衍射极限1000倍。原子力显微镜的前身是扫描隧道显微镜，是由IBM苏黎士研究实验室的卡尔文. 奎特（C. F. Quate） ，格尔德·宾宁（Gerd Binnig）和格勃（Ch. Gerber） 在1986年在[[扫描隧道显微镜]]（STM， Scanning Tunnelling Microscope ）的基础上设计而来。