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《ASIC物理設計要點》，[美] 霍斯魯·戈爾山（Golshan Khosrow） 著，崔志穎 譯，出版社： 科學出版社。

書籍是用文字、圖畫和其他符號，在一定材料上記錄各種知識，清楚地表達思想，並且制裝成卷冊的著作物，為傳播各種知識和思想，積累人類文化的重要工具。它隨着歷史的發展，在書寫方式、所使用的材料和裝幀形式，以及形態方面，也在不斷變化與變更。

內容簡介

《ASIC物理設計要點》旨在闡述ASIC物理設計所需的基本步驟，方便讀者了解ASIC設計的基本思想。《ASIC物理設計要點》以行業通用ASIC物理設計流程順序進行編排，從ASIC庫的一般概念開始，依次介紹布局、布線、驗證及測試，涵蓋的主題包括基本標準單元設計、晶體管尺寸和布局風格、設計約束和時鐘規劃、用於布局的算法、時鐘樹綜合、用於全局和詳細布線的算法、寄生參數提取、功能驗證、時序驗證、物理驗證、並聯模塊測試等。與直接闡述深層次的技術不同，《ASIC物理設計要點》重點放在簡短、清晰的描述上，抓住物理設計的本質，向讀者介紹物理設計工程的挑戰性和多樣化領域。

目錄

第1章 庫 1

1.1 標準單元 2

1.2 晶體管尺寸 10

1.3 輸入/輸出PAD 13

1.4 庫參數化 19

1.5 總結 25

參考文獻 27

第2章 布局規劃 29

2.1 技術文件 30

2.2 電路描述 32

2.3 設計約束 35

2.4 設計規劃 37

2.5 PAD布局 39

2.6 電源規劃 42

2.7 宏模塊布局 44

2.8 時鐘規劃 48

2.9 總結 50

參考文獻 52

第3章 布局 53

3.1 全局布局 54

3.2 局部布局 60

3.3 時鐘樹綜合 66

3.4 功耗分析 73

3.5 總結 75

參考文獻 77

第4章 布線 79

4.1 特殊布線 80

4.2 全局布線 81

4.3 詳細布線 87

4.4 寄生參數提取 92

4.5 總結 104

參考文獻 106

第5章 驗證 107

5.1 功能驗證 108

5.2 時序驗證 110

5.3 物理驗證 125

5.4 總結 128

參考文獻 130

第6章 測試 131

6.1 功能測試 133

6.2 掃描測試 136

6.3 邊界掃描測試 138

6.4 故障測試 140

6.5 參數測試 141

6.6 電流和極低電壓測試 142

6.7 晶圓驗收測試 144

6.8 存儲器內建自測試 146

6.9 並聯模塊測試 148

6.10 總結 148

參考文獻 151