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輻射溫度計是全國科學技術名詞審定委員會審定、公布的科技術語。

漢字,中國古人智慧的結晶[1]。千百年間,它經歷了「甲金篆隸草楷行」的發展[2]。從記錄的工具到藝術的載體,它的身上,傾注了無數先人的心血。

名詞解釋

輻射溫度計屬非接觸式測溫儀表,是基於物體的熱輻射特性與溫度之間的對應關係設計而成。其特點為:測溫範圍廣,原理結構複雜;測量時,感溫元件不與被測對象直接接觸,不破壞被測對象的溫度場;通常用來測定1000℃以上的移動、旋轉或反應迅速的高溫物體的溫度或表面溫度;但不能直接測被測對象的真實溫度,且所測溫度受物體發射率、中間介質和測量距離等因素影響。

我國的工業生產水平越來越高,發展腳步也越來越快,這對工業生產的各個環節提出的要求也就隨之越來越高,尤其是在對生產設備的溫度控制上,將溫度控制在一個合理的範圍之內,對於生產的產品質量和提高生產效率來說都是十分重要的。在我國當前的工業生產環節中,大部分的工藝流程都是在高溫環境中完成的,但是這種環境下是無法進行人工接觸測量溫度的,只能依靠輻射溫度計來完成。了解和掌握輻射溫度計的工作原理和種類,是正確使用輻射溫度計必要的前提和基礎。

種類

測溫學說當中,依據溫度傳感器或溫度計與被測溫場之間的關係,測溫的方法可以分為接觸測溫法和非接觸測溫法。在我國的目前的工業生產中,很多工藝流程都是處於無法進行接觸性人工測溫的高溫環境中,所以非接觸性的測溫方式被廣泛應用於我國各項工業生產當中。非接觸測溫法就是所謂的輻射測溫法,而輻射溫度計就是這種非接觸而測溫法具體實施的載體。輻射溫度計主要包括三個種類:光學高溫計、輻射高溫計、色比溫度計。這三種溫度計都能夠做到不直接接觸被測物體,彌補因高溫而造成的人工測溫的局限性,是我國目前最廣泛應用的溫度計種類。

(1)光學高溫計。光學高溫計,它是根據物體單色輻射亮度跟隨溫度變化原理而製成的非接觸式溫度測量儀表。光學高溫計運用的主要原理是普朗克公式。一般情況下,對於亮度的測量會使用平衡法來完成,就是用人的肉眼來比較被測主體的在一定溫度下的燈泡亮度來判定被測主體當前的溫度,燈絲的電流即是測量結果的主要參數,再將電流與溫度上的刻度表進行對應比較,就是光學高溫計的傳統工作方式。這種傳統的光學高溫計的優勢在於其結構簡單、便於使用,可測量的範圍較為寬泛,精度也較為準確,但是其缺點在於僅靠人的肉眼來進行比較,就容易造成測量數據的誤差,所以新型的光學高溫計採用光電敏感元件來代替人眼,數據準確性大大提高。

(2)輻射高溫計。輻射高溫計是根據物體在整個波長範圍內的輻射能量與其溫度之間的函數關係設計製造的。輻射高溫計屬於透鏡聚焦式的感溫器,運用熱輻射效應的原理,聚焦在熱敏元件上,繼而轉變成電參數,它可以依據測溫的實際需要進行拆卸,並可形成被測物體的影像。輻射高溫計屬於相對簡易的非接觸性測溫儀表,由於其運用熱輻射原理工作,被廣泛運用於冶金、機械、化學工業等領域,主要用於顯示和自動調節被測溫度。

(3)色比溫度計。色比溫度計是一種非接觸式的紅外溫度計,主要根據被測物體發射出的顏色溫度的紅外輻射來進行測量。色比溫度計測溫的主要依據是被測主體發射的紅外能量之比來實現溫度測量的,其是將紅外能量通過濾波器送到探頭,再由探頭轉換成電信號,最後由溫度計刻度顯出。其常用的測溫環境為 600-3000 攝氏度,常搭配觀測管使用,有效減少周遭環境的干擾而獲得較為精準的數據。

工作原理

輻射溫度計的工作原理是物體的熱輻射與溫度之間的對應關係決定的,主要涉及到的理論定律是黑體輻射定律,更為具體一點說則是運用了普朗克定律。在傳統的觀念中,對於物體溫度的概念就是其熱輻射的情況,然而實際上對於一定量的熱輻射來說,其溫度並不是固定值,所以依據熱輻射來判斷物體溫度是極為不準確的。在輻射測溫學說當中,為彌補熱輻射測溫的漏洞,就有了表觀溫度的概念,其主要包括亮度溫度、輻射溫度和顏色溫度,三種輻射溫度計也是依據這一概念產生的。

注意問題

當前輻射溫度計越來越廣泛的應用於各行各業中,其測量結果的準確度對於相關工作能否順利開展具有重要影響,因此對於輻射溫度計的檢定工作顯得尤為重要。在輻射溫度計的檢定過程中要認真把握一些問題,以保證檢定結果準確可靠。

通用技術條件的檢查

1、外觀檢查

被檢溫度計外觀和說明書應符合以下要求:

(1)被檢溫度計上應標有型號規格、製造廠(或商標)和出廠編號;

(2)被檢溫度計上或說明書中應有測量範圍視場和距離係數的數值,以及光譜範圍信息;

(3)被檢溫度計的按鍵功能完好,指示屏顯示正常,無可見缺損。

2、光學系統

以目視法檢查光學系統是否清潔無損傷、是否有鬆動等現象、目視瞄準系統和輔助瞄準裝置是否能正常引導測溫場。

3、絕緣電阻

採用交流電源供電的被檢溫度計、電源端子、外殼與信號輸出端子相互間的絕緣電阻均應大於20 MΩ。輻射溫度計符合上述要求後方可進行檢定。

檢定溫度點的選取

通常在被檢溫度計的測溫範圍內均勻選取檢定點,包括接近下限和上限的檢定點。檢定點接近均勻分布,一般為整百或整十攝氏度點。檢定點在最大允許誤差突變點附近時,應在最大允許誤差較小的一側選擇接近突變點的檢定點。也可根據用戶要求增加檢定點。多量程被檢溫度計的各量程視為不同溫度計,按上述方法分別選取檢定點。在相鄰量程的重疊區,在較低量程和較高量程應選擇相同檢定點。

計量性能檢定前的準備

(1)根據說明書信息確定被檢溫度計的檢定距離;

(2)根據說明書信息確認對輻射源直徑的要求。說明書未直接給出此信息時,查出與檢定距離相對應的視場直徑,選用的黑體輻射源或面輻射源的直徑一般應分別不小於被檢溫度計視場直徑的1.4倍或1.7倍;

(3)根據檢定點和被檢溫度計的技術指標選擇計量標準;

(4)將被檢溫度計放置於檢定環境中,通常不少於4h,初始溫度與檢定環境有較大差異的,應適當延長放置時間;

(5)被檢溫度計及其他所需儀器應按照規定的預熱時間要求通電預熱;

(6)將參考輻射溫度計(如果使用)和被檢輻射溫度計的發射率設定值設為1。

參考文獻