表面结构分析查看源代码讨论查看历史
表面结构分析 (表面相中原子组成与排列方式)的实验研究于段。主要用表 面分析技术如低能电子衍射、反射式高能电子衍射、场致离子 显微镜、俄歇电子能谱、外延X射线吸收精细结构、汤发射、 场离子发射等研究构成表面区的原子的种类，彼此间的相对 位置，表面区的各种缺陷及其他表面问题。[1]
俄歇电子能谱学（Auger electron spectroscopy，简称AES），是一种表面科学和材料科学的分析技术。因此技术主要借由俄歇效应进行分析而命名之。这种效应系产生于受激发的原子的外层电子跳至低能阶所放出的能量被其他外层电子吸收而使后者逃脱离开原子，这一连串事件称为俄歇效应，而逃脱出来的电子称为 俄歇电子。1953年，俄歇电子能谱逐渐开始被实际应用于鉴定样品表面的化学性质及组成的分析。其特点在俄歇电子来自浅层表面，仅带出表面的资讯，并且其能谱的能量位置固定，容易分析。