实用表面分析俄歇电子能谱与X光光电子能谱

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《实用表面分析俄歇电子能谱与X光光电子能谱》，系统介绍用俄歇能谱(AES)和光电子能谱(XPS或ESCA)分析表面和界面成分的专著。M.P.西、D.布里格斯主编。约翰—威利父子有限公司1983年出版。本书收编于《世界百科名著大辞典》。

目录

内容简介

全书共10章，内容包括:表面分析技术的历史背景和发展前景，分析用的仪器，谱线诠释，层深分布，AES和XPS的定量分析，以及这两种方法在微电子学、冶金、催化、高聚物和腐蚀科学中的应用。书末有8个附录，罗列了仪器使用中需用的重要技术资料与基础数据，诸如谱仪的标定，XPS的数据处理分析，AES和XPS的主要峰位，XPS的原子灵敏性因子以及元素与化合物的结合能等。本书特点是集重要概念、分析方法以及表格数据于一书，具有较高的实用价值。

作者简介

D.布里格斯(D.Brig-gs)，英国帝国化学工业公司石油化工与塑料部研究员; M.P.西(M.P.Seah)，英国国家物理实验室材料应用部研究员。

相关信息

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