集成電路測試技術檢視原始碼討論檢視歷史

《集成電路測試技術》，武乾文 著，出版社： 電子工業出版社。

電子工業出版社成立於1982年10月，是工業和信息化部直屬的科技與教育出版社，享有「全國優秀出版社」、「講信譽、重服務」的優秀出版社、「全國版權貿易先進單位」、首屆中國出版政府獎「先進出版單位」等榮譽稱號。

內容簡介

本書全面、系統地介紹了集成電路測試技術。全書共分10章，主要內容包括：集成電路測試概述、數字集成電路測試技術、模擬集成電路測試技術、數模混合集成電路測試技術、射頻電路測試技術、SoC及其他典型電路測試技術、集成電路設計與測試的鏈接技術、測試接口板設計技術、集成電路測試設備、智能測試。書後還附有詳細的測試實驗指導書，可有效指導讀者開展相關測試程序開發實驗。 本書可供集成電路測試等相關領域的科研人員和工程技術人員閱讀使用，也可以作為高等院校電子科學與技術、微電子工程等相關專業的教學用書。

作者介紹

武乾文，中國電子科技集團公司第五十八研究所副總工程師，電子科技大學、南京信息工程大學兼職教授，碩士研究生導師，無錫市學術帶頭人，DSP、CPU集成電路測試專家。曾獲國家科技進步二等獎、國防科技進步二等獎、江蘇省科技進步一等獎等多項，發表論文20多篇。作為微電子預研項目負責人，突破了多項高端集成電路測試技術，建立了國內品種較全、水平較高的測試程序庫。作為科技部儀器重大專項子課題負責人，研製成功了1024通道、1Gbit/s大規模集成電路測試系統，打破了國外壟斷。與多所高校共建了集成電路測試聯合實驗室，解決了集成電路人才緊缺的難題。