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  热载流子效应

热载流子就是具有高能量的载流子,即其动能高于平均热运动能量(~kT)的载流子;因此其运动速度也一定很高。热载流子诱生的MOS器件退化是由于高能量的电子和空穴注入栅氧化层引起的,注入的过程中会产生界面态和氧化层陷落电荷,造成氧化层的损伤。随着损伤程度的增加,器件的电流电压特性就会发生改变。当器件参数改变超过一定限度后,器件就会失效,器件损伤的程度和机理取决于器件的工作条件。

简介

其一是非线性的速度-电场关系:Si中的载流子在高电场时即呈现出漂移速度饱和现象,这就是由于热载流子发射光学波声子(约0.05eV)的结果。GaAs中的电子当被电场“加热”到能量kTe达到0.31eV时(Te是所谓热载流子温度),即从主能谷跃迁到次能谷,从而产生负阻现象。其二是碰撞电离效应:热电子与晶格碰撞、并打破价键,即把价电子激发到导带而产生电子-空穴对的一种作用,碰撞电离需要满足能量和动量守恒,所需要的能量Ei ≈ 3 Eg /2,碰撞电离的程度可用所谓电离率α来表示,α与电场E有指数关系:α = A exp(-Ei/kTe) = A exp(-B/E)。当倍增效应很严重时,即导致产生击穿现象。

评价

石墨烯可以对光产生不同寻常的反应,在室温和普通光照射下,就可以发生热载流子效应,产生电流。这一发现不仅为石墨烯再添新奇属性,更有希望使其在太阳能电池、夜视系统、天文望远镜及半导体传感器等应用领域发挥作用。热载流子效应并不新奇,但通常情况下,需要在接近绝对零度或在极强的激光照射下才会发生,但石墨烯却表现出在室温和普通光下就可以产生热载流子效应的性能,这让人们对石墨烯未来的应用产生了巨大的想像空间。当光照在石墨烯上时,可以产生两个具有不同电气特性的区域,进而出现温差,产生电流。石墨烯在激光照射加热不一致时,携带电流的电子被加热,而晶格中的碳原子核保持低温。正是由于石墨烯内部的温差,产生了电流。这种不同寻常的机制就称为热载流子效应。[1]

参考文献