導覽
近期變更
隨機頁面
新手上路
新頁面
優質條目評選
繁體
不转换
简体
繁體
3.141.31.222
登入
工具
閱讀
檢視原始碼
特殊頁面
頁面資訊
求真百科歡迎當事人提供第一手真實資料,洗刷冤屈,終結網路霸凌。
檢視 X射线摄影测量 的原始碼
←
X射线摄影测量
前往:
導覽
、
搜尋
由於下列原因,您沒有權限進行 編輯此頁面 的動作:
您請求的操作只有這個群組的使用者能使用:
用戶
您可以檢視並複製此頁面的原始碼。
{| class="wikitable" align="right" |- |<center><img src=https://www.kfzimg.com/sw/kfz-cos/kfzimg/bcefcdcc/b79745e93b59d9a2_s.jpg width="250"></center> <small>[https://search.kongfz.com/product_result/?key=x%E5%B0%84%E7%BA%BF%E6%91%84%E5%BD%B1%E6%B5%8B%E9%87%8F&status=0&_stpmt=eyJzZWFyY2hfdHlwZSI6ImFjdGl2ZSJ9 来自 孔夫子旧书网 的图片]</small> |} '''x射线摄影测量'''是全国科学技术名词审定委员会审定、公布的科技类名词。 关于中国[[文字]]的起源<ref>[https://www.sohu.com/na/585329105_121164128 中国汉字是怎样起源的?源始于殷商?文字有600年的历史?],搜狐,2022-09-15</ref>主要有两种观点:起源于刻画符号和“图画文字”起源说<ref>[https://www.sohu.com/a/146154600_594411 揭秘中国最古老的文字是来源图画还是记号?],搜狐,2017-06-05</ref>。我们现在已知的最早的文字是安阳殷墟出土的[[甲骨文]]。 ==名词解释== X射线摄影测量,是根据电磁波谱X射线波段获取的图象,研究物体各要素的形状、尺寸和相关位置的技术和[[理论]]。现代摄影测量学的发展方向之一,是将其应用于[[科学]]和工业各领域。因为随着科学和技术的发展,各方面对量测[[数据]]的需求增加,对精度要求越来越高。为了解决这类任务,进行了大量的理论研究工作。形成了专门技术,从而发展了X射线摄影测量学,现在被越来越广泛地用于医学、工业、艺术、考古和其他领域的实践。 背景 1985年德国物理学家B.K.伦琴发现X射线,在此之前已奠定摄影测量科学的基础,立体象片对已用于测制地图。因此,发现X射线后,将其用于X射线摄影,用摄影测量方法研究人体内部。1897年法国学者马里和波里成功地设计了立体量测仪。尽管当时用其取得了量测结果,但是由于X射线摄影技术尚处于较低水平,所以所设计的仪器并未得到实际应用。后来又研制各种结构的摄影测量仪器,用于量测X射线象片。其中许多结构很原始,现在已不具有实用价值,只具有理论发展的意义。近十年来有很大变化。这首先是由于对测量精度提出了更高的要求。在医学方面,要求X射线诊断提供精确的定量数据,外科手术也要求提供X射线摄影测量的保障。 在工作方面,用X射线探伤法检查零部件的内部质量,要求提供定性和定量数据。 1971年西德OPTON厂开始正式生产用于量测X射线象片的STR型立体量测仪。STR一3型立体量测仪与计算机联机,可实时解决X射线摄影测量的许多复杂问题,X射线摄影测量仪器的水平已显著提高。双镜筒X射线摄影机亦已工业生产,甚至还生产有大幅X射线摄影胶片的快速运输暗匣。 由于现代仪器制造和计算机技术的发展,其成就使X射线摄影测量达到一个崭新水平,提高了精度和速度,使之能解决更复杂的任务,为X射线摄影测量广泛应用于各种实践创造了有利条件。X射线摄影测量有着广阔的发展前景。 理论基础 X射线是一种近视中心锥形投影,X射线摄影所拍摄物体时所得到的影像是一个平面影像。由于CT机每次扫描无法一次确定物体纵向上每条X光线所经过的物体的体素,所以用准直系统屏蔽了大部分的X光线,这样使得每次扫描所获得的数据只能是物体上的一个断层或几个断层的数据。由此导致扫描所重建的图像只能是一个断面或几个断面,再由多个断面重建物体的容积图像。而在遥感与摄影测量领域罩同样存在光束定位问题,但在该领域所用的光线是反射光线,它不可能在地球的外围架设一个硕大的“滑环”支架来定位。但遥感摄影专家们巧妙的利用摄影测量原理,用卫星在太空中相对自由运动飞行拍摄到的二维平面像片影像,用计算机计算的方法确定卫星摄影时的位置和影像光束的位置,同样能精确的获得地球表面起伏状态影像位置的空间三维坐标,重建地球表面(DEM)模型和(DOM)影像、地球表面状态任意断面图像等。 ==参考文献== [[Category:800 語言學總論]]
返回「
X射线摄影测量
」頁面