導覽
近期變更
隨機頁面
新手上路
新頁面
優質條目評選
繁體
不转换
简体
繁體
3.129.249.117
登入
工具
閱讀
檢視原始碼
特殊頁面
頁面資訊
求真百科歡迎當事人提供第一手真實資料,洗刷冤屈,終結網路霸凌。
檢視 电子探针 的原始碼
←
电子探针
前往:
導覽
、
搜尋
由於下列原因,您沒有權限進行 編輯此頁面 的動作:
您請求的操作只有這個群組的使用者能使用:
用戶
您可以檢視並複製此頁面的原始碼。
{| class="wikitable" align="right" |- |<center><img src=https://p8.itc.cn/images01/20230704/d536dd50682f41eba84041664c7fae9f.jpeg width="350"></center> <small>[https://www.sohu.com/a/694227272_121077685 来自 搜狐网 的图片]</small> |} '''电子探针'''是中国的一个科技名词。 汉字是世界上最古老的[[文字]]之一<ref>[https://cul.sohu.com/a/600456221_121124718 云端超市•第407期┃“说文解字,中国最古老的一种文字”——篆书研究 主讲人:倪文东],搜狐,2022-10-28</ref>,已有六千多年的[[历史]]。从仓颉造字的古老传说到公元前1000多年前甲骨文的发现,汉字有着深厚的历史底蕴。后来的演变经历了几千年的漫长历程,在形体上逐渐由图形变为笔画,象形<ref>[https://www.sohu.com/na/422820727_120655090 为什么中国人会发明象形文字?],搜狐,2020-10-06</ref>变为象征,复杂变为简单;在造字[[原则]]上从表形、表意到形声。 ==名词解释== 电子探针是一种利用电子束作用样品后产生的特征X射线进行微区成分分析的仪器, 可以用来分析薄片中[[矿物]]微区的[[化学]]组成。除H、He、Li、Be等几个较轻[[元素]]外,还有U元素以后的元素以外都可进行定性和定量分析。电子探针的大批量是利用经过加速和聚焦的极窄的电子束为探针,激发试样中某一微小区域,使其发出特征X射线,测定该X射线的波长和强度,即可对该微区的元素作定性或定量分析。 电子探针显微分析原理及其发展的初期是建立在X射线光谱分析和电子显微镜这两种技术基础上的,该仪器实质上就是这两种仪器的科学组合。电子探针是运用电子所形成的探测针(细电子束)作为X射线的激发源来进行显微X射线光谱分析的仪器。分析对象是固体物质表面细小颗粒或微小区域,最小范围直径为1μm。电子探针可测量的化学成分的元素范围一般从原子序数12(Mg)至92(U),原子序数大于22的元素可在空气通路的X射线光谱仪上进行测量。电子探针的灵敏度低于X射线荧光光谱仪,原因是电子探针X射线的本底值高于后者,但电子探针的绝对感量比其他仪器都高。此外,后期生产的仪器,可作X射线背散射照相、透视照相。能兼作透射电镜、能进行电子衍射、能作电子荧光观察等。 第一台电子探针是法国制成的,是在1949年用电子显微镜和X射线光谱仪组合而成。 1953年前苏联制成了X射线微区分析仪,以后英、美等国陆续生产。 第一台扫描电子探针仪是美国于1960年制成,不仅能对试样作点或微区分析,而且能对样品表面微区进行扫描。 原子序数12至22的元素要在真空下进行成分测定,原子序数12以内的元素需要增添一些特殊设备才能分析。原子序数50以上的元素用L系X射线光谱进行分析,原子序数50以下的元素也可以分析,如Sn(50)可用K系x射线光谱进行分析。 简单原理 (1)电子光学系统。电子束直径0.1~1μm,电子束穿透深度1~3μm。 被激发原子发射特征X射线谱过程如下:围绕原子核运动的内层电子,被电子束的电子轰击后,其他外层电子为补充轰击出的电子而发生跃迁,在跃迁过程中释放出能量,即发射出X射线。 (2)X射线谱仪。测量各种元素产生的X射线波长和强度,并以此对微小体积中所含元素进行定性和定量分析。 特征X射线图像显像管的原理是:X射线束入射到一已知晶面间距的晶体上(X射线分光光度计的弯曲晶体上),经衍射后各种波长的X射线按不同的布拉格角彼此分开,因此如转动晶体,改变衍射角,同时以两倍于晶体的转速转动计数器,就可以依次测量出各种元素所产生的X射线波长和强度,达到定性和定量分析的目的。 (3)X射线强度测量系统。特征X射线,由B系统中的计数管接收,并转换成电脉冲,通过脉冲高度分析仪、计数率计、定标器、电子电位计将其强度测量出来。 (4)光学显微镜目测系统。用以准确选择需要分析的区域,并作光学观察。 (5)背散射电子图像系统。 (6)吸收电子图像系统。 (7)特征X射线图像系统。电子探针的技术核心是利用X射线晶体光学,主要应用两种方法: 1)晶体衍射法(X射线光谱法)。利用晶体转到一定角度,来衍射某种波长的X射线,通过读出晶体不同的衍射角,求出X射线的波长,从而定出样品所含的元素。 2)X射线能谱分析法。无须分析晶体,而直接将探测器接收的讯号加以放大,进行脉冲幅度分析,通过选择不同的脉冲幅度来确定入射x射线的能量,从而区分不同的特征X射线。计算时应用布拉格方程:nλ=2dsinθ。 产品优点 1、能进行微区分析。可分析数个μm3内元素的成分。 2、能进行现场分析。无需把分析对象从样品中取出,可直接对大块试样中的微小区域进行分析。把电子显微镜和电子探针结合,可把在显微镜下观察到的显微组织和元素成分联系起来。 3、分析范围广。Z>4其中,波谱:Be~U,能谱:Na~U。 功能特色 电子探针可以对试样中微小区域(微米级)的化学组成进行定性或定量分析。可以进行点、线扫描(得到层成分分布信息)、面扫描分析(得到成分面分布图像)。还能全自动进行批量(预置9999测试点)定量分析。由于电子探针技术具有操作迅速简便(相对复杂的化学分析方法而言)、实验结果的解释直截了当、分析过程不损坏样品、测量准确度较高等优点,故在冶金、地质、电子材料、生物、医学、考古以及其它领域中得到日益广泛地应用,是矿物测试分析和样品成分分析的重要工具。 ==参考文献== [[Category:800 語言學總論]]
返回「
电子探针
」頁面