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显微镜
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== 用途 ==
* 物質成分分析。
* [[礦物質]]分析。
* [[分子]]、[[中子]]、[[原子]]…等分析。
* [[細胞]]、[[基因]]…等分析。
* [[細菌]]、[[病毒]]分析。
* [[金相]]分析
* [[集成电路]]生产中各种检测。
* [[电子器件]]检测，如晶振、连接器、液晶屏扽。
==种类==
===光学显微镜===
利用[[透鏡]]放大物像送到眼睛或成像儀器，分辨率大約為一[[微米]]，可以看到[[細胞]]大小的物品。一般
來說顯微鏡大都是指光學顯微鏡，光學顯微鏡依設計的不同，又可分為[[正立顯微鏡]]、[[倒立顯微鏡]]（又
稱倒置顯微鏡）和[[解剖顯微鏡]]（又稱實體顯微鏡或立體顯微鏡）；又有[[偏光顯微鏡]]：又稱為岩石顯微鏡、礦物顯微鏡或金屬顯微鏡，用以觀察岩石、礦物及金屬表面，是利用光的不同性質（[[偏光]]）而做成的；[[相衬显微技术|相衬显微镜]]：觀察變形蟲、草履蟲等透明生物時，所使用的顯微鏡。它的特殊裝置可以將光透過生物體所產生的偏差，改變為明暗不同；又結合光學顯微鏡並利用雷射光作為光源，以達到特殊觀察需求的有[[共聚焦顯微鏡]]（又譯作[[共軛焦顯微鏡]]）。
===电子显微镜===
在20世紀初的一種光學顯微鏡顯著替代被開發，利用電子而不利用光線來產生圖像。於1931年，[[恩斯特·鲁 斯卡]]（Ernst Ruska）開始開發第一個電子顯微鏡- [[透射電子顯微鏡]]（TEM）。透射電子顯微鏡的工作原理和光學顯微鏡有相同的原理，但在使用光的地方用電子代替，在使用玻璃透鏡的地方用電磁鐵代替。使用電子而不是光線允許更高的分辨率。
緊接著[[透射電子顯微鏡]]的開發，是在1935年開發的[[掃描電子顯微鏡]]（SEM）。
===扫描探针显微镜===
是機械式地用探針在樣本上掃描移動以探測樣本影像的顯微鏡。
===扫描隧道显微镜===
STM用來看金屬表面，它是利用[[量子物理]]的[[穿隧效應]]。[[古典物理]]認為，物質不能穿過[[位壘]]，但量子物理告訴我們：物質有機會穿過位壘，而他穿過位壘的[[機率]]和位壘的寬度有關。利用一通電的針狀物體，靠近金屬表面，則電場使電子附近的位能出現位壘形式，此時就有機會觀測到跑出金屬表面的電子，再利用穿過位壘的機率和位壘的寬度有關的特性，就可以推出針到金屬表面的距離，因此可"看"到金屬表面。