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采样控制理论

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采样控制系统的校正校正是通过引入某种装置使控制系统具有所期望的性能指标的方法。常用的校正装置类型有模拟校正装置和数字校正装置。在一般采样控制系统中采用模拟校正装置,它们常是电阻和电容组成的一个网络。在数字控制系统中采用数字校正装置,它用数字处理或数字计算的方式实现对信号的校正,常可通过编制相应的算法程序由数字计算机来完成。数字控制器的优点,是能以很高的精度来实现所要求的复杂运算,而且只需要通过改变程序就可产生不同的控制校正作用。相应的连续控制系统校正装置的设计方法(见控制系统校正方法),在经过适当的修正后,可用于设计采样控制系统的校正装置。<ref>[https://baike.so.com/doc/9236961-9570297.html 采样控制理论]搜狗</ref>
=='''参考文献'''==
 
[[Category:330 物理學總論]]
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