達夫稜鏡
達夫稜鏡是反射稜鏡的一種，名稱來自發明者達夫，外形像是被削去頂角的直角稜鏡，常用於將影像反轉。光線由其中一個斜面進入之後，會在最長的底面產生全反射，然後由相對的另一個斜面射出。因為僅發生一次全反射，所以影像的旋向性會被改變，因而使得影像被反轉。[1]
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簡介
達夫稜鏡是反射稜鏡的一種，名稱來自發明者達夫，外形像是被削去頂角的直角稜鏡，常用於將影像反轉。光線由其中一個斜面進入之後，會在最長的底面產生全反射，然後由相對的另一個斜面射出。因為僅發生一次全反射，所以影像的旋向性會被改變，因而使得影像被反轉。
達夫稜鏡令人感興趣的是，當稜鏡沿着長軸旋轉時，影像會以兩倍於稜鏡旋轉的角度轉動。這種特性意味者可以用任意的角度轉動光柱，使她們成為有用的光束旋轉器，可以應用在干涉測量法、天文學和影像識別的領域。
摩倫諾等人（2003年、2004年）發現光束在通過轉動中的達夫稜鏡後有被偏極化的現象，而達夫稜鏡造成的偏振光有個特性是可以影響到儀表的信號測量。
稜鏡
稜鏡，在光學中是一種透明的光學元件，拋光與平坦的表面能折射光線。正確的表面角度取決於應用上的需求，傳統的幾何形狀是以三角型為基礎長方形為邊的三稜柱。在口頭上提到稜鏡時，通常都是指這種類型，但許多光學稜鏡都不是這種形狀的稜鏡。只要是對波長透明的材料都可以用來製造稜鏡，但傳統上和外觀上看都是以玻璃來製作。
稜鏡可以將光線分裂成原來的成分，也就是光譜（在彩虹中的顏色），也可以用來反射或分裂成不同的偏振光。
干涉測量術
干涉測量術（英語：Interferometry）是通過由波的疊加（通常為電磁波）引起的干涉現象來獲取信息的技術。這項技術對於天文學、光纖、工程計量、光學計量、海洋學、地震學、光譜學及其在化學中的應用、量子力學、核物理學、粒子物理學、等離子體物理學、遙感、生物分子間的相互作用、表面輪廓分析、微流控、應力與應變的測量、測速以及驗光等領域的研究都非常重要。
干涉儀廣泛應用於科學研究和工業生產中對微小位移、折射率以及表面平整度的測量。在干涉儀中，從單個光源發出的光會分為兩束，經不同光路，最終交匯產生干涉。所產生的干涉圖紋能夠反映兩束光的光程差。在科學分析中，干涉儀用於測量長度以及光學元件的形狀，精度能到納米級。它們是現有精度最高的長度測量儀器。在傅里葉變換光譜學中，干涉儀用於分析包含與物質相互作用發生吸收或散射信息的光。天文學干涉儀由兩個及以上的望遠鏡組成，它們的信號匯合在一起，結果的分辨率與直徑為元件間最大間距的望遠鏡的相同。
參見
衍射
摩爾紋
干涉儀列表