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[[file:王德君.jpg|缩略图|[https://pic.baike.soso.com/ugc/baikepic2/7604/20191213214513-795829698_png_481_575_305622.jpg/0 原图连接][https://baike.sogou.com/v64894030.htm?fromTitle=%E7%8E%8B%E5%BE%B7%E5%90%9B 图片来自搜狗网]]] [[大连]]理工大学电子科学与技术学院教授<ref>[https://www.sogou.com/tx?query=%E5%A4%A7%E8%BF%9E%E7%90%86%E5%B7%A5%E5%A4%A7%E5%AD%A6%E7%94%B5%E5%AD%90%E7%A7%91%E5%AD%A6%E4%B8%8E%E6%8A%80%E6%9C%AF%E5%AD%A6%E9%99%A2%E6%95%99%E6%8E%88&hdq=sogou-site-706608cfdbcc1886&ekv=3&ie=utf8& 大连理工大学电子科学与技术学院教授],大连理工大学 - faculty.dlut.edu.cn...- 2020-5-22</ref> 王德君，男，毕业于[[清华大学]]，[[博士]]，大连理工大学教授、博士生导、硕士生导师<ref>[https://www.sogou.com/tx?query=%E7%8E%8B%E5%BE%B7%E5%90%9B%EF%BC%8C%E7%94%B7%EF%BC%8C%E6%AF%95%E4%B8%9A%E4%BA%8E%E6%B8%85%E5%8D%8E%E5%A4%A7%E5%AD%A6%EF%BC%8C%E5%8D%9A%E5%A3%AB%EF%BC%8C%E5%A4%A7%E8%BF%9E%E7%90%86%E5%B7%A5%E5%A4%A7%E5%AD%A6%E6%95%99%E6%8E%88%E3%80%81%E5%8D%9A%E5%A3%AB%E7%94%9F%E5%AF%BC%E3%80%81%E7%A1%95%E5%A3%AB%E7%94%9F%E5%AF%BC%E5%B8%88&hdq=sogou-site-706608cfdbcc1886&ekv=3&ie=utf8&王德君，男，毕业于清华大学，博士，大连理工大学教授、博士生导、硕士生导师 ],大连理工大学 - faculty.dlut.edu.cn...- 2021-3-12</ref> 。 中文名： 王德君 学位/学历： 博士 任职院校：大连理工大学 毕业院校： 清华大学 专业方向： 材料学 '''目录''' 1人物经历 教育经历 工作经历 2学术成果 发表论文 授权专利 代表著作 科研项目 ==人物经历== 教育经历 吉林大学半导体化学专业本科、[[硕士]] 清华大学材料学博士 工作经历 先后服务于[[北京大学]]、名古屋大学和奈良先端科学技术大学院大学，现[[大连理工大学]]教授，博士生导师（微电子、控制、凝聚态物理）。 ==学术成果== 发表论文 Zhang, Yi-Jie,Yin, Zhi-Peng,Su, Yan,Wang, De-Jun.Passivation of carbon dimer defects in amorphous SiO2/4H-SiC(0001) interface: A first-principles study[J],CHINESE PHYSICS B,2018,27(4) Haipeng Zhang,王德君.A GaN/InGaN/AlGaN MQW RTD for versatile MVL applications with improved logic stability[J],Journal of Semiconductors,2018,39(7):7400401-7400411 杨超,王德君.Capacitance–Voltage Measurements and Bias Temperature Stress Induced Flatband Voltage Instability in 4H-SiC MOS Capacitors[A],Asia-Pacific Conference on Silicon Carbide and Related Materials (APCSCRM 2018),2018,2018(July):13-26 Zhang Haipeng,Wang Dejun,Geng Lu,Lin Mi,Zhang Zhonghai,Lu Weifeng,Wang Xiaoyuan,Wang Ying,Zhang Qiang,Bai Jianling.High voltage InGaN/GaN/AlGaN RTD suitable for ESD protection applications of GaN/InGaN-based devices and ICs validated by simulation results[A],2018 25TH IEEE INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON THE PHYSICAL AND FAILURE ANALYSIS OF INTEGRATED CIRCUITS (IPFA),2018 Wu, Zijian,Cai, Jian,Wang, Qian,Wang, Junqiang,Wang, Dejun.Wafer-Level Hermetic Package by Low-Temperature Cu/Sn TLP Bonding with Optimized Sn Thickness[J],JOURNAL OF ELECTRONIC MATERIALS,2017,46(10):6111-6118 王德君,何淼,秦芝,黄庆,都时禹.碳化铀核燃料缺陷结构的研究现状[J],核技术,2017,40(7):83-94[2] 授权专利 一种降低SiC MOS界面态密度的表面预处理方法 镀金金属衬底上的氮化铝镓铟/二硫化钼钨膜及制备方法 石墨烯改性图形化金属衬底上的氮化镓基薄膜及制备方法 一种柔性聚酰亚胺衬底上的氮化镓基薄膜及其制备方法 一种自感知便携式图像无线监控设备及使用方法 一种降低SiO<sub>2</sub>/SiC界面态密度的方法 代表著作 半导体材料与器件表征技术 科研项目 SiC MOS器件界面缺陷及其钝化研究,国家自然科学基金项目, 2014/09/01, 完成 系统级封装技术工艺加工, 企事业单位委托科技项目, 2011/11/03-2011/12/31, 进行 新一代半导体SiC材料表面处理技术, 省、市、自治区科技项目, 2007/01/01-2009/12/31, 完成 SiC半导体MOS结构界面态研究, 主管部门科技项目, 2007/01/01-2009/03/31, 完成 2006年度教育部新世纪优秀人才支持计划, 主管部门科技项目, 2006/12/31-2009/12/31, 完成 SiC MOS器件近界面氧化物缺陷与阈值电压漂移抑制技术研究,国家自然科学基金项目, 2018/08/16, 进行 参考资料： 1. 王德君 大连理工大学 [引用日期2019-10-30] 2. 王德君 大连理工大学 [引用日期2019-10-30] 词条标签： 行业人物 教师 大学教师 人物 ==信息来源== [[Category:人物]]
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